X射線衍射儀整個(gè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)理念
2017-06-07
X射線衍射儀因其光束*的高強(qiáng)度、平行初級(jí)光束和二維探測(cè)器，而與同步輻射SAXS光束具有相似的設(shè)計(jì)。使用二維探測(cè)器避免了零維和一維探測(cè)器在數(shù)據(jù)采集時(shí)產(chǎn)生的數(shù)據(jù)誤差并除去了對(duì)樣品限制性初始假定的必要。事實(shí)上，X射線衍射儀可以分析并澄清樣品的性質(zhì)，甚至在樣品顆粒不對(duì)稱或表現(xiàn)有擇優(yōu)取向的情況下。另外，通過(guò)運(yùn)行Nanography可以得到樣品具有µm量級(jí)SAXS分辨率的實(shí)空間圖像。
X射線衍射儀還配置了高強(qiáng)度的X射線源和新型多層光學(xué)配件，可以為樣品提供高強(qiáng)類點(diǎn)入射光束。標(biāo)配的HI-STAR探測(cè)器是一種真正意義上的具有光子計(jì)數(shù)能力的無(wú)噪實(shí)時(shí)二維探測(cè)器。
當(dāng)今的材料科學(xué)家和工程師已經(jīng)可以在納米尺度了解和改進(jìn)材料的性質(zhì)。令人興奮的新材料，如設(shè)計(jì)聚合物與生物陶瓷等正在研制之中，同時(shí)液晶、金屬有機(jī)物和薄膜涂層等材料的更新和發(fā)展也正因?yàn)閷?duì)它們納米結(jié)構(gòu)的研究和改進(jìn)而逐步變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。
X射線衍射儀是一種用于納米結(jié)構(gòu)材料的可靠而且經(jīng)濟(jì)的無(wú)損分析方法。
X射線衍射儀整個(gè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)都基于簡(jiǎn)單易行和故障保護(hù)的理念之上。像機(jī)械減震器這樣的工具允許在無(wú)用戶介入的情況下進(jìn)行全自動(dòng)操作。可以根據(jù)不同樣品和具體應(yīng)用的需要從大量高性能的光學(xué)配件中進(jìn)行選擇，從而達(dá)到*的分辨率。
采用新型UMC載物臺(tái)和各種不同類型的尤拉環(huán)可以組合成理想的樣品承載系統(tǒng)，非常適于進(jìn)行殘余應(yīng)力、織構(gòu)和微區(qū)衍射分析。在用X射線反射法對(duì)鍍層或者半導(dǎo)體進(jìn)行研究時(shí)甚至還可以利用的樣品臺(tái)進(jìn)行變溫研究。
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